OWTS測試電纜的優(yōu)勢是什么？

     在“狀態(tài)檢測”概念出現(xiàn)之前，大家通過耐壓試驗(yàn)來檢驗(yàn)電纜的絕緣狀況，通過對電纜施加幾倍于正常運(yùn)行電壓的高壓來擊穿電纜上的缺陷點(diǎn)，發(fā)現(xiàn)故障隱患。但這種方法受缺陷的類型影響較大，更糟糕的是，它雖然可以檢查出電纜上的部分缺陷，但在檢查的過程中，由于施加電壓較高、試驗(yàn)時(shí)間較長等原因，又出現(xiàn)了更多的新缺陷。為了避免這種情況，大家想到以電纜的介質(zhì)損耗參數(shù)來評估一條電纜的絕緣情況。這是有效的。因?yàn)殡S著電纜工作年限的推移，其電氣性能會(huì)發(fā)生劣化。通過介質(zhì)損耗角來評估電纜的絕緣情況能得到客觀的評價(jià)。但它的缺點(diǎn)很快又暴露出來：只能評估電纜整體絕緣情況，而不能更細(xì)化地找出缺陷嚴(yán)重的點(diǎn)。這就使其實(shí)用性大大降低。比如一條新電纜，接頭有嚴(yán)重缺陷，可電纜介損很小，運(yùn)行不久就出現(xiàn)故障。于是技術(shù)人員又開始尋找一個(gè)更能具體體現(xiàn)缺陷發(fā)展趨勢的參數(shù)，最終，人們把目光定在了局放（Partial discharge）上面。

     局放現(xiàn)象普遍存在于高壓電力設(shè)備中，如變壓器、GIS、電纜等在高電壓狀態(tài)下都會(huì)產(chǎn)生局部放電現(xiàn)象，其絕緣物質(zhì)中就會(huì)發(fā)生不貫穿整個(gè)絕緣層的放電，即局部放電，簡稱局放。局放現(xiàn)象普遍存在，當(dāng)它局放水平達(dá)到一定程度時(shí)，促使絕緣狀況進(jìn)一步惡化，直到將絕緣擊穿。很多電纜故障都是由局部放電的發(fā)展而導(dǎo)致的。通過測量電纜局部放電量沿電纜長度的分布，就可以對電纜的絕緣有一個(gè)直觀的判斷。一般來說，所加電壓越大，電壓頻率越高，就越容易產(chǎn)生局放。

技術(shù)比較

     0.1Hz正弦局放測試是以0.1Hz正弦波形電壓作為為局放激發(fā)源，其電源極性轉(zhuǎn)換頻率很低，轉(zhuǎn)換時(shí)電壓曲線斜率也低，這樣就需要加很高的電壓并且測試較長的時(shí)間才能激發(fā)并采集到足夠多的局放數(shù)據(jù)，因此對電纜的損傷就比較大，并引發(fā)電纜中的新缺陷，增加電纜擊穿的幾率。下面的試驗(yàn)可以很好地說明這個(gè)結(jié)論：

     日本的Katsumi Uchida等人研究了振蕩波和VLF電壓，他們分別在XLPE電力電纜上設(shè)置2種缺陷。

     試驗(yàn)結(jié)果表明：當(dāng)施加振蕩波電壓時(shí)，2種缺陷的電樹枝起始電壓遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于擊穿電壓；在VLF作用下，2種缺陷的電樹枝起始電壓與擊穿電壓接近，即存在電樹枝后不久就擊穿，相比之下，振蕩波實(shí)現(xiàn)更方便，測試更安全且與交流電壓較接近。其他關(guān)于不同電壓和頻率對絕緣測試效果的試驗(yàn)也很多，可在相關(guān)資料中查詢得到。

     以前我們所做的耐壓試驗(yàn)經(jīng)常會(huì)發(fā)生在實(shí)驗(yàn)時(shí)沒有擊穿，而在運(yùn)行不久后就擊穿的現(xiàn)象。和耐壓試驗(yàn)最大的區(qū)別在于，狀態(tài)監(jiān)測的前提須是在試驗(yàn)對電纜的影響盡量小的情況下得到準(zhǔn)確的狀態(tài)數(shù)據(jù)，是近乎無損的，這樣才能保證在得到絕緣狀態(tài)相關(guān)數(shù)據(jù)后，電纜仍然保持試驗(yàn)前的狀態(tài)，不出現(xiàn)新缺陷。振蕩波在這方面就有其他方法無法比擬的優(yōu)越性。

     OWTS系統(tǒng)采用低阻尼振蕩波作為局放的激發(fā)電壓。由于振蕩波持續(xù)時(shí)間很短，無需持續(xù)加壓，所以在過去的耐壓試驗(yàn)設(shè)備中很少見到有實(shí)用性的設(shè)備?？墒窃诰址艡z測中，這卻變成了它最大的優(yōu)勢。電壓振蕩時(shí)間約為幾十毫秒，在這個(gè)過程中，電壓極性轉(zhuǎn)變近百次，這有三個(gè)優(yōu)點(diǎn)：

    1、電壓轉(zhuǎn)換斜率大，容易激發(fā)局放缺陷，所以只要加較低的電壓就可測到局放，而不是0.1Hz那樣加到2~3倍U0；